采用垂直同步双观测 (DSOI)技术的ICP-OES等离子体发射光谱仪，完全符合ASTM D 5185-18、GB/T17476-2023标准方法。
电感耦合等离子体发射光谱仪适用于常规元素分析的高性价比解决方案，完全符合ASTM D 5185-18、GB/T17476-2023标准方法。
SPECTRO XEPOS 光谱仪的分析性能在能量色散 X 射线荧光技术（ED-XRF）领域独树一帜。 具备多元素和多浓度（主量、微量和痕量）的突破性分析能力。符合SH/T 0631-1996、ASTM D6481-1999标准。
SPECTROCUBE 偏振X射线荧光光谱仪可为各种应用提供简单、可靠、准确、高通量的分析，例如贵金属分析，合规筛查，以及多种过程监测如燃料和润滑油分析。符合SH/T 0631-1996 标准。
